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Vortrag

3D-Bruchflächen-Metallographie mit REM und Photogrammetrie

Mittwoch (21.09.2016)
14:25 - 14:45 Uhr Hörsaal B
Bestandteil von:


Bruchflächen sind dreidimensionale Strukturen, die jedoch im Rasterelektronenmikroskop üblicherweise nur zweidimensional abgebildet werden. Die gebrochene Oberfläche einer CT-Probe wurde mit einem REM großflächig und hochauflösend untersucht und anschließend mittels Photogrammetrie dreidimensional nachmodelliert. Durch Projektion auf die modellierte Struktur konnten die REM-Daten mit den Höheninformationen der Bruchfläche kombiniert werden. So war es möglich, die Bruch-Mikrostruktur räumlich abzubilden.

 

Sprecher/Referent:
Weitere Autoren/Referenten:
  • Fabian Mariano
    Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen (RWTH)

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